Test method for crystal quality of III-nitride epitaxial layers
现行
2014-12-31
2015-09-01
GB/T 30653-2014
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
H21
77.040.20
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
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