III族氮化物半导体材料中位错成像的测试透射电子显微镜法

Test method for dislocation imaging in III-nitride semiconductor materials—Transmission electron microscopy

GB/T 44558-2024 推荐性国家标准

现行

标准状态

发布日期

2024-09-29

实施日期

2025-04-01

基础信息

标准号

GB/T 44558-2024

批准发布部门

国家标准委

发布部门

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

技术归口

国家标准委

标准分类

中国标准分类号

H21

国际标准分类号

77.040

标准层级

国家标准

专题

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