碳化硅单晶抛光片微管密度无损检测方法

Nondestructive test method for micropipe density of polished monocrystalline silicon carbide wafers

GB/T 31351-2014推荐性国家标准

废止

更新日期:2026-07-27

标准状态

发布日期

2014-12-31

实施日期

2015-09-01

基础信息

标准分类

中国标准分类号

H26

国际标准分类号

77.040.99

标准层级

国家标准

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