半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环

Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 25: Temperature cycling

GB/T 4937.25-2025推荐性国家标准

即将实施

相似
更新日期:2026-09-12

标准状态

发布日期

2025-12-02

实施日期

2026-07-01

基础信息

标准号

GB/T 4937.25-2025

是否采用国际标准

该标准采用国际标准

标准分类

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

标准层级

国家标准

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