Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 29: Latch-up test
2025-12-02
2026-07-01
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 46788-2025 | 半导体器件表面镀涂锡和锡合金上的锡须的环境接收要求 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| GB/T 27963-2026 | 人居环境气候舒适度评价 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2026-12-01 |
| GB/T 4937.29-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分：闩锁试验 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| GB/T 4937.25-2025 | 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分：温度循环 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| DB14/T1994-2020 | 酥梨气候品质评价 | 废止 | 2020-06-10 | 2020-08-10 |