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半导体器件10KeV低能X射线总剂量辐照试验方法

SJ/T 11586-2016 SJ电子

现行

标准状态

发布日期

2016-01-15

实施日期

2016-06-01

基础信息

标准号

SJ/T 11586-2016

批准发布部门

工业和信息化部

技术归口

工业和信息化部电子工业标准化研究院

制修订

制定

标准分类

中国标准分类号

L40

国际标准分类号

31.080.01

标准类别

方法标准

标准分类

电子

标准层级

行业标准

备案信息

备案号

54885-2016

备案日期

2016-06-22

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所

起草人

罗宏伟、何玉娟、恩云飞 等

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