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标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 20831-2025电工钢带(片)绝缘涂层热耐久性测试方法即将实施2025-08-292026-03-01
GB/T 46227-2025半导体单晶材料透过率测试方法即将实施2025-08-292026-03-01
GB/T 5252-2020锗单晶位错密度的测试方法现行2020-06-022021-05-01
YS/T 23-2016硅外延层厚度测定 堆垛层错尺寸法现行2016-04-052016-09-01
YS/T 1124-2016磁性溅射靶材透磁率测试方法现行2016-07-112017-01-01
YS/T 1161.2-2016拟薄水铝石分析方法 第2部分:烧失量的测定 重量法现行2016-07-112017-01-01
YS/T 1161.1-2016拟薄水铝石分析方法 第1部分:胶溶指数的测定 EDTA容量法现行2016-07-112017-01-01
YS/T 24-2016外延钉缺陷的检验方法现行2016-04-052016-09-01
YS/T 1161.3-2016拟薄水铝石分析方法 第3部分:孔容和比表面积的测定 氮吸附法现行2016-07-112017-01-01
GB/T 36705-2018氮化镓衬底片载流子浓度的测试 拉曼光谱法现行2018-09-172019-06-01
GB/T 13220-1991细粉末粒度分布的测定 声波筛分法现行1991-10-051992-06-01
GB/T 30860-2014太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法现行2014-07-242015-04-01
GB/T 39861-2021锰酸锂电化学性能测试 放电平台容量比率及循环寿命测试方法现行2021-03-092021-10-01
GB/T 41079.2-2022液态金属物理性能测定方法 第2部分:电导率的测定现行2022-10-142023-02-01
GB/T 42907-2023硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法现行2023-08-062024-03-01
GB/T 30859-2014太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法现行2014-07-242015-04-01
GB/T 8760-2020砷化镓单晶位错密度的测试方法现行2020-09-292021-08-01
GB/T 44558-2024III族氮化物半导体材料中位错成像的测试 透射电子显微镜法现行2024-09-292025-04-01
GB/T 38980-2020锆管探伤对比试样人工缺陷尺寸测量方法现行2020-07-212021-06-01
GB/T 42260-2022磷酸铁锂电化学性能测试 循环寿命测试方法现行2022-12-302023-04-01