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标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 30868-2014碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法废止2014-07-242015-02-01
GB/T 30856-2014LED外延芯片用砷化镓衬底废止2014-07-242015-04-01
GB/T 14140-2009硅片直径测量方法废止2009-10-302010-06-01
SJ/T 11499-2015碳化硅单晶电学性能的测试方法废止2015-04-302015-10-01
SJ/T 11502-2015碳化硅单晶抛光片规范废止2015-04-302015-10-01
SJ/T 11493-2015硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法废止2015-04-302015-10-01
GB/T 47902-2026金刚石单晶抛光片即将实施2026-07-022027-02-01
GB/T 47901-2026激光器外延芯片用砷化镓衬底即将实施2026-07-022027-02-01
GB/T 16596-1996确定晶片坐标系规范废止1996-11-041997-04-01
GB/T 16595-1996晶片通用网格规范废止1996-11-041997-04-01
GB/T 12964-2003硅单晶抛光片废止2003-06-162004-01-01
GB/T 12965-2005硅单晶切割片和研磨片废止2005-09-192006-04-01
GB/T 20230-2006磷化铟单晶废止2006-04-212006-10-01
GB/T 20229-2006磷化镓单晶废止2006-04-212006-10-01
GB/T 20228-2006砷化镓单晶废止2006-04-212006-10-01
GB/T 11071-2006区熔锗锭废止2006-07-182006-11-01
GB/T 11070-2006还原锗锭废止2006-07-182006-11-01
GB/T 11069-2006高纯二氧化锗废止2006-07-182006-11-01
GB/T 11094-2007水平法砷化镓单晶及切割片废止2007-09-112008-02-01
GB/T 14139-2009硅外延片废止2009-10-302010-06-01