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工业和信息化部(电子) 第104页

标准号标准名称状态发布日期实施日期
GB/T 48166-2026汽车用多芯片模组(MCM)应力试验要求即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 6346.17-2026电子设备用固定电容器 第17部分:分规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 6346.16-2026电子设备用固定电容器 第16部分:分规范 金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 6346.2-2026电子设备用固定电容器 第2部分:分规范 金属化聚对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48099-2026半导体封装用带预制焊环盖板即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 6495.12-2026光伏器件 第12部分:钙钛矿光伏电池及组件的电流-电压(I-V)特性测量方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48104-2026光伏组件报废评价技术要求即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 22123-2026数字电视接收设备图像和声音主观评价方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 2470-2026电子设备用固定电阻器和固定电容器型号命名方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48102-2026光伏组件耦合环境应力试验方法及性能要求即将实施2026-08-282026-12-01
GB/T 28162.2-2026自动装配用元器件的包装 第2部分:单向引线元器件在连续带上的带式包装即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48164.2-2026半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第2部分:体二极管工作引起双极退化的试验方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48164.1-2026半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第1部分:偏置温度不稳定性试验方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48101.1-2026波导同轴转换器 第1部分:总规范 一般要求和试验方法即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 15394-2026多探针测试台通用技术条件即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48072-2026电能存储系统用钠离子电池和电池组 安全技术规范即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48105-2026含碱性或其他非酸性电解质的蓄电池和电池组 工业设备用锂蓄电池和电池组 安全要求即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 48108-2026射频(RF)声表面波(SAW)及体声波(BAW)器件功率耐久性测试指南即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 44069.9-2026铁氧体磁心 尺寸和表面缺陷极限导则 第9部分:平面磁心即将实施2026-08-282027-03-01
GB/T 11313.106-2026射频连接器 第106部分:电气试验方法 射频功率即将实施2026-08-282027-03-01