| GB/T 12854-2026 | 脉冲调制管空白详细规范 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48074.1-2026 | 有质量评定的射频（RF）体声波（BAW）滤波器 第1部分：总规范 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 30118-2026 | 声表面波（SAW）器件用单晶晶片 规范与测量方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48070.1-2026 | 多通道射频连接器 第1部分：总规范 一般要求和试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 47239.5-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第5部分：柔性材料热特性测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 43024.3-2026 | 压电、介电和静电振荡器的测量技术 第3部分：频率老化的试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 20521.12-2026 | 半导体器件 第14-12部分：半导体传感器 基于CMOS成像的气体传感器的性能测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48170-2026 | 用于功率转化的氮化镓高电子迁移率晶体管（GaN HEMT）动态导通电阻测试方法指南 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48168-2026 | 半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 18310.7-2026 | 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-7部分：试验 弯矩 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48075.2210-2026 | 眼戴显示 第22-10部分：AR特殊测试方法 光学性能 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48075.2020-2026 | 眼戴显示 第20-20部分：基本测试方法 图像质量 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2026-12-01 |
| GB/T 48075.2010-2026 | 眼戴显示 第20-10部分：基本测试方法 光学性能 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2026-12-01 |
| GB/T 42709.29-2026 | 半导体器件 微电子机械器件 第29部分：室温下悬空导电薄膜的机电松弛试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 47239.3-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第3部分：柔性基板在凸起状态下的薄膜晶体管性能评价 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 47239.2-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第2部分：柔性器件的电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压评价方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 47239.6-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第6部分：柔性导电薄膜的薄层电阻测试方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 47239.1-2026 | 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 第1部分：柔性基板上导电薄膜的弯曲试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/Z 177.6-2026 | 人工智能终端智能化分级 第6部分：眼镜 | 现行 | 2026-08-27 | |
| GB/T 48071.2-2026 | 磁粉心 尺寸和表面缺陷极限导则 第2部分：环形磁粉心 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2026-12-01 |