Semiconductor devices—Reliability test method by inductive load switching stress for gallium nitride(GaN) transistors
即将实施
2026-08-28
2027-03-01
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 48170-2026 | 用于功率转化的氮化镓高电子迁移率晶体管（GaN HEMT）动态导通电阻测试方法指南 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48168-2026 | 半导体器件 基于感性负载开关应力的氮化镓（GaN）晶体管可靠性试验方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 48170-2026 | 用于功率转化的氮化镓高电子迁移率晶体管（GaN HEMT）动态导通电阻测试方法指南 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| T/CASAS 053-2025 | 氮化铝抛光片位错密度的测试 腐蚀坑法 | 现行 | 2025-05-20 | 2025-05-20 |
| T/CASAS 054-2025 | 氮化铝抛光片吸收系数测试方法 | 现行 | 2025-05-20 | 2025-05-20 |
| T/CMES 08005-2020 | 氮化铬铁 碳和硫含量的测定 高频燃烧红外吸收法 | 现行 | 2020-12-07 | 2020-12-07 |
| T/GDC 69-2020 | 氮化镓充电器 | 现行 | 2020-09-11 | 2020-09-15 |
| YS/T 1794-2025 | 碳氮化钛基硬质材料 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| T/GDC 69-2020 | 氮化镓充电器 | 现行 | 2020-09-11 | 2020-09-15 |
| T/CMES 08005-2020 | 氮化铬铁 碳和硫含量的测定 高频燃烧红外吸收法 | 现行 | 2020-12-07 | 2020-12-07 |
| GB 16187-1996 | 车间空气中叠氮酸和叠氮化钠卫生标准 | 废止 | 1996-04-03 | 1996-09-01 |
| GB/T 15827-1995 | 离子镀 仿金氮化钛的颜色 | 废止 | 1995-12-14 | 1996-08-01 |
| DB52/T 883-2014 | 软氮化滑片 | 废止 | 2014-01-09 | 2014-02-01 |
| HG 3581-1999 | 工业叠氮化钠 | 废止 | 1999-04-20 | 2000-04-01 |
| GB/T 5687.2-2007 | 铬铁、硅铬合金和氮化铬铁 硅含量的测定 高氯酸脱水重量法 | 废止 | 2007-09-11 | 2008-02-01 |
| GB/T 47610-2026 | 氮化铝陶瓷粉体 | 即将实施 | 2026-05-25 | 2026-12-01 |