| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/TAF 157-2023 | 基于ARM架构的SoC阵列服务器 技术规范 | 现行 | 2023-04-26 | 2023-04-26 |
| YD/T 2000.2-2009 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG）技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 废止 | 2009-12-11 | 2010-01-01 |
| GY/T 319-2018 | 电视节目制作网络系统磁盘阵列技术要求和测试方法 | 废止 | 2018-03-28 | 2018-03-28 |
| GB/T 17444-1998 | 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 | 废止 | 1998-07-30 | 1999-05-01 |
| GB/T 28511.2-2012 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG）技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 废止 | 2012-06-29 | 2012-10-01 |
| GB/T 37978-2026 | 信息技术 存储管理应用 盘阵列存储管理接口 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| T/CAEPI 17-2019 | 阵列式消声器技术要求 | 现行 | 2019-05-06 | 2019-06-01 |
| SY/T 6800-2024 | 阵列感应成像测井仪 | 现行 | 2024-09-24 | 2025-03-24 |
| GB/T 34362-2017 | 无损检测 适形阵列涡流检测导则 | 现行 | 2017-09-29 | 2018-04-01 |
| GB/T 43798-2024 | 平板显示阵列用正性光阻材料测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 5965-2000 | 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范 | 现行 | 2000-01-03 | 2000-07-01 |
| DL/T 2086-2020 | 高压输电线路和变电站噪声的传声器阵列测量方法 | 现行 | 2020-10-23 | 2021-02-01 |
| GB/T 36479-2018 | 集成电路 焊柱阵列试验方法 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-01-01 |
| SY/T 6937-2023 | 阵列声波测井资料处理与解释规范 | 现行 | 2023-10-11 | 2024-04-11 |
| SN/T 5915-2025 | 进出口危险化学品 易制爆品快速测定 比色阵列智能分析法 | 现行 | 2025-07-25 | 2026-02-01 |
| SY/T 6912-2024 | 阵列侧向测井仪 | 现行 | 2024-09-24 | 2025-03-24 |
| YY/T 1869-2023 | 探测器阵列剂量测量系统 性能和试验方法 | 现行 | 2023-01-13 | 2024-07-15 |
| GB/T 19247.6-2024 | 印制板组装 第6部分:球栅阵列（BGA）和盘栅阵列（LGA）焊点空洞的评估要求及测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |