金属材料 电阻率测量方法

Metallic materials—Resistivity measurement method

GB/T 351-2019推荐性国家标准

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GB/T 351-2019 相似标准 第1页

更新时间 2026-10-25
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GB/T 12968-1991纯金属电阻率与剩余电阻比涡流衰减测量方法现行1991-06-041992-03-01
GB/T 31838.7-2021固体绝缘材料 介电和电阻特性 第7部分:电阻特性(DC方法) 高温下测量体积电阻和体积电阻率现行2021-05-212021-12-01
GB/T 40007-2021纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则现行2021-05-212021-12-01
GB/T 3048.2-2007电线电缆电性能试验方法 第2部分:金属材料电阻率试验现行2007-12-032008-05-01
GB/T 5654-2007液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量现行2007-12-032008-05-20
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GB/T 5167-1985烧结金属材料和硬质合金电阻率的测定废止1985-05-081986-02-01
DB/T 33.3-2009地震地电观测方法 地电阻率观测 第3部分:大地电磁重复测量现行2009-02-092009-06-01
JB/T 7780.3-2008铆钉型触头用线材机械物理性能试验方法 第3部分:电阻率测量现行2008-02-012008-07-01
GB/T 19289-2019电工钢带(片)的电阻率、密度和叠装系数的测量方法现行2019-06-042020-05-01
GB/T 26074-2010锗单晶电阻率直流四探针测量方法现行2011-01-102011-10-01
GB/T 11073-2007硅片径向电阻率变化的测量方法废止2007-09-112008-02-01
GB/T 11073-2025硅片径向电阻率变化测量方法即将实施2025-10-312026-05-01
T/IAWBS 013-2019半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法现行2019-12-272019-12-31
T/IAWBS 011-2019导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法现行2019-12-272019-12-31
SJ/T 11487-2015半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法现行2015-04-302015-10-01
SY/T 5385-2007岩石电阻率参数实验室测量及计算方法废止2007-10-082008-03-01