| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| SY/T 6712-2008 | 岩样复电阻率实验室测量方法 | 废止 | 2008-06-16 | 2008-12-01 |
| SY/T 5385-1991 | 岩石电阻率参数实验室测量及计算方法 | 废止 | 1991-07-19 | 1991-02-01 |
| GB/T 19289-2003 | 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法 | 废止 | 2003-09-12 | 2004-04-01 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| JB/T 6773-2011 | 金属石墨制品的电阻率试验方法 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-04-01 |
| T/CPIA 0051-2023 | 晶体硅光伏电池金属电极接触电阻率测试方法 传输线模型法（TLM） | 现行 | 2023-10-15 | 2023-10-30 |
| T/CASAS 019-2021 | 微纳米金属烧结体电阻率测试方法 四探针法 | 现行 | 2021-11-01 | 2021-12-01 |
| JB/T 6773-1993 | 金属石墨制品电阻率试验方法 | 废止 | 1993-08-21 | 1993-10-01 |
| GB/T 4192-1984 | 电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 | 现行 | 1984-03-09 | 1984-11-01 |
| GB/T 24525-2009 | 炭素材料电阻率测定方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-05-01 |
| GB/T 5594.5-1985 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法 | 现行 | 1985-11-27 | 1986-12-01 |
| GB/T 31967.3-2025 | 稀土永磁材料物理性能测试方法 第3部分：电阻率的测试 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 2951.51-2008 | 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第51部分：填充膏专用试验方法 滴点 油分离 低温脆性 总酸值 腐蚀性 23℃时的介电常数 23℃和100℃时的直流电阻率 | 现行 | 2008-06-26 | 2009-04-01 |
| GB/T 31838.2-2019 | 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第2部分：电阻特性(DC方法) 体积电阻和体积电阻率 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-01-01 |
| GB/T 31838.3-2019 | 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第3部分：电阻特性(DC方法) 表面电阻和表面电阻率 | 现行 | 2019-06-04 | 2020-01-01 |
| YB/T 6044-2022 | 炭素材料热态电阻率测定方法 | 现行 | 2022-09-30 | 2023-04-01 |
| YB/T 120-1997 | 炭素材料电阻率测定方法 | 现行 | 1997-08-04 | 1997-12-01 |