半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)测量方法

Test method for semiconductor equipment reliability, availability and maintainability(RAM)

GB/T 24468-2025推荐性国家标准

即将实施

上传时间:2026-03-19
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GB/T 24468-2025 相似标准 第15页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
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GB/Z 22200-2016小容量交流接触器可靠性试验方法废止2016-04-25
DB32/T 3697-2019既有建筑幕墙可靠性检验评估技术规程现行2019-12-162020-03-01
JB/T 12021.2-2014智能仪表可靠性试验与评估 第2部分:智能涡街流量计可靠性试验与评估现行2014-05-122014-10-01
JB/T 6810-2014分散型控制系统功能模板模块可靠性设计规范现行2014-05-122014-10-01
JB/T 13098-2017机床用电磁继电器可靠性试验方法标准现行2017-01-092017-10-01
JB/T 10522-2005小容量交流接触器 可靠性试验方法现行2005-05-182005-11-01
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JB/T 13058-2017往复式内燃机 线束可靠性试验方法标准现行2017-01-092017-07-01
JB/T 10389-2014智能仪表可靠性设计评审现行2014-05-122014-10-01
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JB/T 10914-2021落砂机 可靠性试验方法现行2021-10-082022-02-01
JB/T 11222-2011低速汽车 钢板弹簧可靠性试验方法现行2011-12-202012-04-01
JB/T 5464-1991电子测磁仪器 可靠性技术要求和试验方法现行1991-07-091992-07-01
JB/T 6183-2014仪器仪表可靠性要求及评估方法的编写指南现行2014-05-122014-10-01
JB/T 11266-2023火电厂湿法烟气脱硫装置可靠性评价规程现行2023-05-222023-11-01
JB/T 4198.3-2020工程机械用柴油机 第3部分:可靠性、耐久性试验方法现行2020-04-162021-01-01
JB/T 11416-2013喷油器总成可靠性考核 评定方法、试验方法、故障分类及判定规则现行2013-04-252013-09-01