Microbeam analysis—Guidelines for electron beam microanalysis of defects in steel materials
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 43493.1-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第1部分：缺陷分类 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/T 43493.2-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/T 43493.3-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| DB37/T 4333-2021 | 缺陷产品召回档案管理规范 | 现行 | 2021-03-11 | 2021-04-11 |
| GB/T 29092-2012 | 镁及镁合金压铸缺陷术语 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-10-01 |
| DB36/T 2195-2025 | 隧道衬砌混凝土缺陷冲击回波声频法检测技术规程 | 现行 | 2025-12-10 | 2026-07-01 |
| GB/T 24300-2009 | 铜钨电触头缺陷检测方法 | 废止 | 2009-09-30 | 2010-02-01 |
| GB/T 4058-2009 | 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| GB/T 15757-2002 | 产品几何量技术规范(GPS) 表面缺陷 术语、定义及参数 | 现行 | 2002-07-15 | 2003-01-01 |
| GB/T 30789.5-2015 | 色漆和清漆 涂层老化的评价 缺陷的数量和大小以及外观均匀变化程度的标识 第5部分：剥落等级的评定 | 现行 | 2015-07-03 | 2016-02-01 |
| GB/T 30789.1-2015 | 色漆和清漆 涂层老化的评价 缺陷的数量和大小以及外观均匀变化程度的标识 第1部分：总则和标识体系 | 现行 | 2015-06-02 | 2016-01-01 |
| GB/T 30789.4-2015 | 色漆和清漆 涂层老化的评价 缺陷的数量和大小以及外观均匀变化程度的标识 第4部分：开裂等级的评定 | 现行 | 2015-07-03 | 2016-02-01 |
| GB/T 11346-2018 | 铝合金铸件射线照相检测 缺陷分级 | 现行 | 2018-07-13 | 2018-08-01 |
| JB/T 9754-1999 | 内燃机 灰铁铸件缺陷焊补 技术条件 | 现行 | 1999-09-17 | 2000-01-01 |
| JB/T 13746-2019 | 铜艺术铸件铸造缺陷补焊修正技术规范 | 现行 | 2019-12-24 | 2020-10-01 |
| JB/T 6043-1992 | 金属电阻焊接头缺陷分类 | 现行 | 1992-05-05 | 1993-07-01 |
| JB/T 9674-1999 | 超声波探测瓷件内部缺陷 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| JB/T 8271-2015 | 静电复印光导体表面缺陷比对版 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |