Test method for complex permittivity of solid dielectric materials at microwave frequencies--Perturbation method
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 42744-2023 | 微波电路 电调衰减器测试方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 44766-2024 | 微波电路 限幅器测试方法 | 现行 | 2024-10-26 | 2025-05-01 |
| T/CASAS 029-2023 | Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法 | 现行 | 2023-06-30 | 2023-07-01 |
| T/CSTM 00989-2023 | 微波参数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的测试方法 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-07-21 |
| YD/T 2529-2013 | SDH数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-06-01 |
| YD/T 2742-2014 | 分组数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 现行 | 2014-10-14 | 2014-10-14 |
| GB/T 26068-2010 | 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法 | 废止 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| YD/T 2528-2013 | 扩频数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-06-01 |
| YD/T 508-2025 | 微波通信系统抛物面天线技术要求和测试方法 | 现行 | 2025-12-17 | 2026-04-01 |
| T/CECA-G 0276-2023 | 家用和类似用途微波炉能效测试及表征方法 | 现行 | 2023-12-22 | 2023-12-25 |
| YD/T 2742-2026 | 分组数字微波通信设备和系统技术要求及测试方法 | 即将实施 | 2026-07-15 | 2027-02-01 |
| DL／T 846.14-2023 | 高电压测试设备通用技术条件 第14部分：绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪 | 现行 | 2023-05-26 | 2023-11-26 |
| DL/T 1694.6-2020 | 高压测试仪器及设备校准规范 第6部分：电力电缆超低频介质损耗测试仪 | 现行 | 2020-10-23 | 2021-02-01 |
| DL/T 846.17-2025 | 高电压测试设备通用技术条件 第17部分：高压介质损耗测试仪 | 现行 | 2025-06-30 | 2025-12-30 |
| DL/T 962-2005 | 高压介质损耗测试仪通用技术条件 | 废止 | 2005-02-14 | 2005-06-01 |
| JJG 1126-2016 | 高压介质损耗因数测试仪 | 现行 | 2016-06-27 | 2016-09-27 |
| JJF 1618-2017 | 绝缘油介质损耗因数及体积电阻率测试仪校准规范 | 现行 | 2017-02-28 | 2017-05-28 |
| Q/GDW 1895-2013 | 电容型设备介质损耗因数和电容量带电测试技术现场应用导则 | 现行 | 2014-01-10 | 2014-01-10 |