主要技术内容
本文件规定了覆铜板和印制电路板的微波参数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的测试方法,包括一般要求、环境试验方法、插入损耗、特性阻抗、介电常数和介质损耗角正切值、无源互调测试等内容。本文件适用于覆铜板和印制电路板环境载荷下微波参数的测试,温度测试范围:-65 ℃~125 ℃,湿度测试范围:50% RH~95% RH,温度循环速率:≤15 ℃/min。
Test method for microwave parameters under high temperature, low temperature, temperature cycling and humidity
现行
2023-04-21
2023-07-21
T/CSTM 00989-2023
中关村材料试验技术联盟
否
L 30
31.180
C398 电子元件及电子专用材料制造
团体标准
本文件规定了覆铜板和印制电路板的微波参数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的测试方法,包括一般要求、环境试验方法、插入损耗、特性阻抗、介电常数和介质损耗角正切值、无源互调测试等内容。 本文件适用于覆铜板和印制电路板环境载荷下微波参数的测试,温度测试范围:-65 ℃~125 ℃,湿度测试范围:50% RH~95% RH,温度循环速率:≤15 ℃/min。
本文件规定了覆铜板和印制电路板的微波参数在高温、低温、温度循环、湿度载荷下的测试方法,包括一般要求、环境试验方法、插入损耗、特性阻抗、介电常数和介质损耗角正切值、无源互调测试等内容。本文件适用于覆铜板和印制电路板环境载荷下微波参数的测试,温度测试范围:-65 ℃~125 ℃,湿度测试范围:50% RH~95% RH,温度循环速率:≤15 ℃/min。
工业和信息化部电子第五研究所、电子科技大学、成都恩驰微波科技有限公司、中兴通讯股份有限公司、浙江华正新材料股份有限公司、广东生益科技股份有限公司
何骁,肖美珍,余承勇,邵伟恒,陈泽坚,孙朝宁,朱辉,吴俊明,张云鹏,王峰,聂富刚,刘潜发,董辉,任英杰,卢悦群,葛鹰,李恩,贺光辉,罗道军
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