| GB/T 17444-2013 | 红外焦平面阵列参数测试方法 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| GB/T 17444-1998 | 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 | 废止 | 1998-07-30 | 1999-05-01 |
| GB/T 28511.2-2023 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG）技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-04-01 |
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