| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 41869.1-2022 | 光学和光子学 微透镜阵列 第1部分：术语 | 现行 | 2022-10-12 | 2022-10-12 |
| JB/T 13150-2017 | 无损检测仪器 涡流检测仪用变阵列探头 | 现行 | 2017-04-12 | 2018-01-01 |
| JB/T 11780-2014 | 无损检测仪器 阵列涡流检测仪性能和检验 | 现行 | 2014-05-12 | 2014-10-01 |
| JB/T 11279-2012 | 无损检测仪器 线阵列涡流探头 | 现行 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| GB/T 41869.2-2022 | 光学和光子学 微透镜阵列 第2部分：波前像差的测试方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 12604.13-2023 | 无损检测 术语 第13部分：阵列超声检测 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-05-23 |
| GB/T 15879.604-2023 | 半导体器件的机械标准化 第6-4部分：表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 焊球阵列（BGA）封装的尺寸测量方法 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-09-01 |
| GB/T 41869.3-2024 | 光学和光子学 微透镜阵列 第3部分：光学特性测试方法 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-06-01 |
| GB/T 41869.4-2024 | 光学和光子学 微透镜阵列 第4部分：几何特性测试方法 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-03-01 |
| DB65/T 3462-2013 | 光伏阵列汇流箱技术规范 | 废止 | 2013-01-01 | 2013-02-01 |
| SY/T 6906-2012 | 多极子阵列声波测井仪 | 废止 | 2012-08-23 | 2012-12-01 |
| GB/T 45391-2025 | 无损检测仪器 涡流检测设备 阵列探头性能和检验 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| GB/T 45713.4-2025 | 电子装联技术 第4部分：阵列型封装表面安装器件焊点的耐久性试验方法 | 现行 | 2025-05-30 | 2025-09-01 |
| SJ/T 10607-1994 | 半导体集成电路门阵列设计总则 | 现行 | 1994-10-11 | 1995-04-01 |
| SJ/T 11527-2015 | 磁盘阵列通用规范 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| SJ/T 11706-2018 | 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法 | 现行 | 2018-02-09 | 2018-04-01 |
| SJ/T 11714-2018 | 扬声器线阵列用声波导主要性能测试方法 | 现行 | 2018-04-30 | 2018-07-01 |
| GB/T 28511.2-2023 | 平面光波导集成光路器件 第2部分：基于阵列波导光栅（AWG）技术的密集波分复用（DWDM）滤波器 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-04-01 |