Characterization of gold nanorods—Part 3: Measurement method of surface charge density
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 22638.10-2016 | 铝箔试验方法 第10部分：涂层表面密度的测定 | 现行 | 2016-12-30 | 2017-11-01 |
| GB/T 22638.10-2008 | 铝箔试验方法 第10部分：涂层表面密度的测定 | 废止 | 2008-12-29 | 2009-11-01 |
| GB/T 34326-2017 | 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法 | 废止 | 2017-09-29 | 2018-08-01 |
| GB/T 43313-2023 | 碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试 共焦点微分干涉法 | 现行 | 2023-11-27 | 2024-06-01 |
| GB/T 6373-2007 | 表面活性剂 表观密度的测定 | 现行 | 2007-08-13 | 2008-02-01 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| GB/T 34326-2026 | 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度的测量方法 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| GB/T 29023.1-2012 | 超声法颗粒测量与表征 第1部分：超声衰减谱法的概念和过程 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-10-01 |
| GB/T 14055.2-2012 | 中子参考辐射 第2部分：与表征辐射场基本量相关的辐射防护仪表校准基础 | 现行 | 2012-06-29 | 2012-11-01 |
| GB/T 42845.1-2023 | 微细气泡技术 微气泡的表征 第1部分：粒径指数的离线评估 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 16886.18-2022 | 医疗器械生物学评价 第18部分：风险管理过程中医疗器械材料的化学表征 | 现行 | 2022-12-30 | 2024-01-01 |
| GB/T 37977.45-2024 | 静电学 第4-5部分：特定应用中的标准试验方法 人/鞋/地系统的静电防护特性表征方法 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |
| GB/T 45159.3-2024 | 机械振动与冲击 黏弹性材料动态力学性能的表征 第3部分：悬臂剪切梁法 | 现行 | 2024-12-31 | 2024-12-31 |
| GB/T 45159.1-2024 | 机械振动与冲击 黏弹性材料动态力学性能的表征 第1部分：原理和指南 | 现行 | 2024-12-31 | 2024-12-31 |
| GB/T 45159.2-2024 | 机械振动与冲击 黏弹性材料动态力学性能的表征 第2部分：共振法 | 现行 | 2024-12-31 | 2024-12-31 |