Methods for chemical analysis of niobium hafnium alloys—Determination of trace impurity elements content—Inductively coupled plasma mass spectrometry
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 892-2024 | 高纯钛化学分析方法痕量杂质元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 896-2024 | 高纯铌化学分析方法痕量杂质元素含量的测定电感耦合等离子体质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| GB/T 42513.10-2025 | 镍合金化学分析方法 第10部分：痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/CASAS 010-2019 | 氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| T/CASAS 009-2019 | 半绝缘碳化硅材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| T/CASAS 010-2019 | 氮化镓材料中痕量杂质浓度及分布的二次离子质谱检测方法 | 现行 | 2019-11-25 | 2019-11-25 |
| YB/T 6158-2023 | 金属铬 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| YS/T 1600-2023 | 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-11-01 |
| GB/T 26416.2-2022 | 稀土铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-07-01 |
| GB/T 13747.26-2022 | 锆及锆合金化学分析方法 第26部分：合金及杂质元素的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2022-12-30 | 2023-04-01 |
| T/CNEA 249.5-2024 | 核工业用锆及锆合金化学分析方法 第5部分：合金及杂质元素的测定?电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2024-12-04 | 2025-02-02 |
| XB/T 624.1-2018 | 钇铁合金化学分析方法 第1部分：稀土杂质量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2018-11-08 | 2019-04-01 |
| XB/T 616.2-2012 | 钆铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2012-11-07 | 2013-03-01 |
| XB/T 623.1-2018 | 铈铁合金化学分析方法 第1部分：稀土杂质量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2018-11-08 | 2019-04-01 |
| XB/T 614.5-2011 | 钆镁合金化学分析方法 第5部分：稀土杂质含量的测定 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-07-01 |
| XB/T 621.2-2016 | 钬铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 现行 | 2016-07-11 | 2017-01-01 |
| DB36/T 814.2-2014 | 钬铁合金化学分析方法 第2部分：稀土杂质含量的测定电感耦合等离子体发射光谱法 | 废止 | 2014-11-27 | 2015-03-01 |