Test methods for aluminium and aluminium alloy foils—Part 1: Determination of thickness
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-06 | 2018-12-17 |
| YS/T 14-2015 | 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| GB/T 30867-2014 | 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法 | 废止 | 2014-07-24 | 2015-02-01 |
| SY/T 4107-2005 | 复合防腐涂层各层厚度破坏性测量方法 | 废止 | 2005-07-26 | 2005-11-01 |
| QB/T 1912-1993 | 眼镜架金属镀层厚度测试方法--X荧光光谱法 | 废止 | 1994-01-06 | 1994-08-01 |
| SY/T 0066-1999 | 钢管防腐层厚度的无损测量方法（磁性法） | 废止 | 1999-05-17 | 1999-12-01 |
| JB/T 7503-1994 | 金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法 | 废止 | 1994-12-09 | 1995-10-01 |
| YS/T 14-1991 | 导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法 | 废止 | 1991-04-26 | 1992-06-01 |
| JB/T 8270-1995 | 静电复印光导体膜层厚度 测量方法 | 废止 | 1996-04-14 | 1996-04-14 |
| SY 0066-1992 | 管道防腐层厚度的无损测量方法(磁性法) | 废止 | 1992-06-30 | 1992-12-01 |
| DB21/T 2838-2017 | 高分子防水材料复合片(FS2)芯材厚度现场测试方法 | 废止 | 2017-08-26 | 2017-09-26 |
| GB/T 15717-1995 | 真空金属镀层厚度测试方法 电阻法 | 废止 | 1995-10-18 | 1996-04-01 |
| GB/T 16921-1997 | 金属覆盖层 厚度测量 X射线光谱方法 | 废止 | 1997-07-25 | 1998-02-01 |
| GB/T 46782-2025 | 金属及其他无机覆盖层 多层镍电镀层中各镍镀层厚度和层间电位差同步测试方法（STEP测试） | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| T/XAI 8-2021 | 覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法 | 现行 | 2021-04-12 | 2021-04-16 |
| T/IAWBS 007-2018 | 4H 碳化硅同质外延层厚度的红外反射测量方法 | 现行 | 2018-12-06 | 2018-12-17 |
| JB/T 8270-1999 | 静电复印光导体膜层厚度 测量方法 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| T/XAI 8-2021 | 覆晶薄膜化锡厚度测试方法 库仑法 | 现行 | 2021-04-12 | 2021-04-16 |