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| SJ/T 11403-2009 | 通信用激光二极管模块可靠性评定方法 | 现行 | 2009-11-17 | 2010-01-01 |
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| GB/T 16894-1997 | 大于100A,环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 | 现行 | 1997-06-28 | 1998-03-01 |
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| GB/T 21039.1-2007 | 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范 | 现行 | 2007-06-29 | 2007-11-01 |
| GB/T 18802.321-2007 | 低压电涌保护器元件 第321部分:雪崩击穿二极管(ABD)规范 | 现行 | 2007-06-21 | 2008-02-01 |
| GB/T 18904.5-2003 | 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范 | 现行 | 2003-01-24 | 2003-08-01 |
| GB/T 23729-2009 | 闪烁探测器用光电二极管 试验方法 | 现行 | 2009-05-06 | 2009-12-01 |
| GB/T 30241.2-2013 | 齐纳二极管安全栅 第2部分:性能评定方法 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| GB/T 15651.7-2024 | 半导体器件 第5-7部分:光电子器件 光电二极管和光电晶体管 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| GB/T 6351-1998 | 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 | 现行 | 1998-11-17 | 1999-06-01 |
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