Standard guide to charge control and charge referencing techniques in X-ray photoelectron spectroscopy
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 实施日期 | 相似标准 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 31472-2015 | X光电子能谱中荷电控制和荷电基准技术标准指南 | 现行 | 2016-01-01 | 找相似 |
| GB/T 25185-2010 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告 | 现行 | 2011-08-01 | 找相似 |
| GB/T 32998-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱荷电控制与校正方法报告的规范要求 | 现行 | 2017-09-01 | 找相似 |
| DL/T 2112-2020 | 敏感负荷电压暂降控制技术导则 | 现行 | 2021-02-01 | 找相似 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2011-08-01 | 找相似 |
| GB/T 36401-2018 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 | 现行 | 2019-05-01 | 找相似 |
| GB/T 33502-2017 | 表面化学分析 X射线光电子能谱(XPS)数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2018-01-01 | 找相似 |
| GB/T 28633-2012 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性 | 现行 | 2013-02-01 | 找相似 |
| GB/T 28632-2012 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定 | 现行 | 2013-02-01 | 找相似 |
| GB/T 21006-2007 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性 | 现行 | 2008-03-01 | 找相似 |
| GB/T 30704-2014 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南 | 现行 | 2014-12-01 | 找相似 |
| GB/T 30702-2014 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 | 现行 | 2014-12-01 | 找相似 |
| GB/T 28893-2024 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 现行 | 2024-10-01 | 找相似 |
| GB/T 28892-2024 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
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| GB/T 43598-2023 | 纳米技术 石墨烯粉体氧含量和碳氧比的测定 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2024-07-01 | 找相似 |
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| GB/T 29556-2013 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定 | 现行 | 2014-03-01 | 找相似 |