Standard practice for determination of the specimen area contributing to the detected signal in Auger electron spectrometers and some X-ray photoelectron spectrometers
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 28892-2012 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |
| GB/T 16840.3-2021 | 电气火灾痕迹物证技术鉴定方法 第3部分：俄歇分析法 | 现行 | 2021-08-20 | 2021-08-20 |
| GB/T 15651.3-2003 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 43789.32-2024 | 电子纸显示器件 第3-2部分：光电性能测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-03-15 |
| GB/T 46135.3-2025 | 有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第3部分：纯度 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 46135.2-2025 | 有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第2部分：光学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| GB/T 46135.1-2025 | 有机发光电子/空穴功能材料测试方法 第1部分：热学性能 | 即将实施 | 2025-10-05 | 2026-05-01 |
| T/CAIA YQ007-2021 | 电子倍增电荷耦合成像器件光电性能通用测试方法 | 现行 | 2021-07-30 | 2021-08-15 |
| YD/T 2001.2-2011 | 用于光纤系统的半导体光电子器件 第2部分：测试方法 | 现行 | 2011-12-20 | 2012-02-01 |
| SJ/T 12074-2025 | 光通信用硅基光电子芯片晶圆级测试方法 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| GA/T 1937-2021 | 法庭科学 橡胶检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2021-10-14 | 2022-05-01 |
| GA/T 1939-2021 | 法庭科学 电流斑检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2021-10-14 | 2022-05-01 |
| GA/T 1938-2021 | 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2021-10-14 | 2022-05-01 |
| GB/T 17361-2013 | 微束分析 沉积岩中自生粘土矿物鉴定 扫描电子显微镜及能谱仪方法 | 现行 | 2013-07-19 | 2014-03-01 |
| SF/T 0139-2023 | 泥土检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2023-10-07 | 2023-12-01 |
| GB/T 18873-2008 | 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则 | 现行 | 2008-06-16 | 2009-03-01 |
| GB/T 17507-2008 | 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件 | 现行 | 2008-06-16 | 2009-03-01 |
| GB/T 20726-2015 | 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法 | 废止 | 2015-10-09 | 2016-09-01 |