| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 13624-2026 | 核电厂安全参数显示系统的功能设计准则 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| JB/T 2369-2024 | 读数显微镜 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| ZJM-007-4823-2023 | 数显卡尺 | 现行 | 2023-04-13 | 2023-04-13 |
| JB/T 11507-2025 | 游标、带表和数显长量爪卡尺 | 即将实施 | 2025-12-17 | 2026-07-01 |
| JB/T 15357-2025 | 楔形数显塞尺 | 即将实施 | 2025-12-17 | 2026-07-01 |
| JB/T 15356-2025 | 几何量数显装置 术语 | 即将实施 | 2025-12-17 | 2026-07-01 |
| JJG 57-1999 | 光学、数显分度头 | 现行 | 1999-09-06 | 1999-12-06 |
| JJF 1114-2004 | 光学、数显分度台校准规范 | 现行 | 2004-03-02 | 2004-09-02 |
| JJF 1254-2010 | 数显测高仪校准规范 | 现行 | 2010-05-11 | 2010-11-11 |
| JJF 1280-2011 | 容栅数显标尺校准规范 | 现行 | 2011-04-12 | 2011-07-12 |
| JJG 999-2018 | 称量式数显液体密度计 | 现行 | 2018-02-27 | 2018-08-27 |
| GB/T 48095-2026 | 高深宽比微结构形貌参数显微干涉测量方法 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 41064-2021 | 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| SJ/T 10457-1993 | 俄歇电子能谱术语深度剖析标准导则 | 现行 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| GB/T 22462-2008 | 钢表面纳米、亚微米尺度薄膜 元素深度分布的定量测定 辉光放电原子发射光谱法 | 现行 | 2008-10-30 | 2009-06-01 |
| DL/T 5463-2024 | 架空输电线路施工图设计内容深度规定 | 现行 | 2024-05-24 | 2024-11-24 |
| NB/T 11508-2024 | 配电自动化工程可行性研究报告内容深度规定 | 现行 | 2024-05-24 | 2024-11-24 |
| YD/T 6101-2024 | 深度包检测策略信息库智能管理技术要求 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-02-01 |