| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 1555-2023 | 半导体单晶晶向测定方法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 39137-2020 | 难熔金属单晶晶向测定方法 | 现行 | 2020-10-11 | 2021-09-01 |
| GB/T 9532-2012 | 压电单晶材料型号命名方法 | 现行 | 2012-11-05 | 2013-02-15 |
| GB/T 4326-2006 | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | 废止 | 2006-07-18 | 2006-11-01 |
| GB/T 30118-2013 | 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法 | 现行 | 2013-12-17 | 2014-05-15 |
| JB 5203-1991 | 单晶刚玉化学分析方法 | 现行 | 1991-06-22 | 1992-07-01 |
| SJ/T 10625-1995 | 锗单晶中间隙氧含量的红外吸收测量方法 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| SJ/T 11207-1999 | 钇铁石榴石单晶磁性薄膜磁特性的测量方法 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| JB/T 5203-2023 | 单晶刚玉化学分析方法 | 现行 | 2023-12-29 | 2024-07-01 |
| GB/T 26074-2010 | 锗单晶电阻率直流四探针测量方法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 18032-2000 | 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 | 现行 | 2000-04-03 | 2000-09-01 |
| GB/T 34210-2017 | 蓝宝石单晶晶向测定方法 | 现行 | 2017-09-07 | 2018-06-01 |
| GB/T 4326-2025 | 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/CASAS 036-2025 | 碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定方法 辉光放电质谱法 | 现行 | 2025-04-23 | 2025-04-23 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| JB/T 5203-2012 | 单晶刚玉 化学分析方法 | 废止 | 2012-05-24 | 2012-11-01 |
| GB/T 9532-1988 | 铌酸锂、钽酸锂、锗酸铋、硅酸铋压电单晶材料型号命名方法 | 废止 | 1988-06-28 | 1989-02-01 |