非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

GB/T 4326-2025 推荐性国家标准

即将实施

标准状态

发布日期

2025-10-31

实施日期

2026-05-01

基础信息

标准号

GB/T 4326-2025

批准发布部门

国家标准委

发布部门

国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

技术归口

国家标准委

标准分类

中国标准分类号

H17

国际标准分类号

77.040

标准层级

国家标准

专题

相似标准

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
GB/T 249-2026	半导体分立器件型号命名方法	即将实施	2026-02-27	2026-09-01
GB/T 43894.2-2026	半导体晶片近边缘几何形态评价第2部分：边缘卷曲法（ROA）	即将实施	2026-01-28	2026-08-01
GB/T 36358-2018	半导体光电子器件功率发光二极管空白详细规范	现行	2018-06-07	2019-01-01
GB/T 37131-2018	纳米技术半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法	现行	2018-12-28	2018-12-28
GB/T 29299-2012	半导体激光测距仪通用技术条件	现行	2012-12-31	2013-06-01
GB/T 24578-2024	半导体晶片表面金属沾污的测定全反射X射线荧光光谱法	现行	2024-07-24	2025-02-01
GB/T 249-2017	半导体分立器件型号命名方法	现行	2017-05-12	2017-12-01
GB/T 7092-2021	半导体集成电路外形尺寸	现行	2021-03-09	2021-10-01
GB/T 36357-2018	中功率半导体发光二极管芯片技术规范	现行	2018-06-07	2019-01-01
GB/T 36356-2018	功率半导体发光二极管芯片技术规范	现行	2018-06-07	2019-01-01
GB/T 31358-2015	半导体激光器总规范	现行	2015-02-04	2015-08-01
GB/T 36005-2018	半导体照明设备和系统的光辐射安全测试方法	现行	2018-03-15	2018-10-01
GB/T 26070-2010	化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法	现行	2011-01-10	2011-10-01
GB/T 13973-2012	半导体管特性图示仪通用规范	现行	2012-12-31	2013-06-01
GB/T 34971-2017	半导体制造用气体处理指南	现行	2017-11-01	2018-02-01
GB/T 10236-2006	半导体变流器与供电系统的兼容及干扰防护导则	现行	2006-11-08	2007-04-01
GB/T 36360-2018	半导体光电子器件中功率发光二极管空白详细规范	现行	2018-06-07	2019-01-01
DB32/ 3747-2020	半导体行业污染物排放标准	现行	2020-02-06	2020-04-01
DB32/T 4894-2024	微机电系统半导体气体传感器性能检测方法	现行	2024-11-07	2024-12-07
QB/T 5369-2019	半导体制冷器具	现行	2019-08-02	2020-01-01
GB/T 44687-2024	超硬磨料制品半导体晶圆精密磨削用砂轮	现行	2024-09-29	2025-04-01
GB/T 30116-2013	半导体生产设施电磁兼容性要求	现行	2013-12-17	2014-04-15
GB/T 43136-2023	超硬磨料制品半导体芯片精密划切用砂轮	现行	2023-09-07	2024-04-01
GB/T 46227-2025	半导体单晶材料透过率测试方法	即将实施	2025-08-29	2026-03-01
GB/T 39771.2-2021	半导体发光二极管光辐射安全第2部分：测试方法	现行	2021-03-09	2021-10-01
GB/T 47162-2026	洁净室门通用技术要求	即将实施	2026-02-27	2026-09-01
GB/T 47058-2026	森林草原防火视频监控系统技术规范	即将实施	2026-01-28	2026-05-01