| T/ICMTIA SM006-2021 | 集成电路线宽65nm-14nm逻辑工艺用300mm P/P-型硅外延片 | 现行 | 2021-07-30 | —— |
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| GB/T 14999.2-2012 | 高温合金试验方法 第2部分：横向低倍组织及缺陷酸浸检验 | 废止 | 2013-05-01 | 找相似 |
| GB/T 4058-2009 | 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 | 现行 | 2010-06-01 | 找相似 |
| GB/T 18032-2000 | 砷化镓单晶AB微缺陷检验方法 | 现行 | 2000-09-01 | 找相似 |
| YS/T 1032-2015 | 铝电解用阴极炭块内部缺陷检验方法 | 现行 | 2015-10-01 | 找相似 |
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| JB/T 6062-1992 | 焊缝渗透检验方法和缺陷迹痕的分级 | 废止 | 1993-07-01 | 找相似 |
| JB/T 6061-1992 | 焊缝磁粉检验方法和缺陷磁痕的分级 | 废止 | 1993-07-01 | 找相似 |
| GB/T 15033-2009 | 生咖啡 嗅觉和肉眼检验以及杂质和缺陷的测定 | 现行 | 2009-09-01 | 找相似 |
| GB/T 226-2015 | 钢的低倍组织及缺陷酸蚀检验法 | 现行 | 2016-06-01 | 找相似 |
| DB5331/T 47.9-2023 | 德宏小粒种咖啡综合技术规程第9部分：缺陷豆和杂质的检验与测定 [德宏傣族景颇族自治州] | 废止 | 2023-08-01 | 找相似 |
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| GB/T 7736-2008 | 钢的低倍缺陷超声波检验法 | 废止 | 2009-05-01 | 找相似 |
| DB53/T 154.8-2006 | 思茅小粒种咖啡综合标准 第8部分:咖啡缺陷豆和异物检验与测定 [云南省] | 废止 | 2006-06-01 | 找相似 |
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