表面化学分析 二次离子质谱 硅中砷的深度剖析方法

Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Method for depth profiling of arsenic in silicon

GB/T 32495-2016推荐性国家标准

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更新时间 2026-10-25
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GB/T 14353.20-2019铜矿石、铅矿石和锌矿石化学分析方法 第20部分:铼量测定 电感耦合等离子体质谱法现行2019-10-182020-05-01
GB/T 7739.14-2019金精矿化学分析方法 第14部分:铊量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法和电感耦合等离子体质谱法现行2019-08-302020-07-01
GB/T 14352.24-2022钨矿石、钼矿石化学分析方法 第24部分:锗含量的测定 电感耦合等离子体质谱法现行2022-12-302023-04-01
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YS/T 1121.2-2016氯化钯化学分析方法 第2部分:镁、铝、铬、锰、铁、镍、铜、锌、钌、铑、银、锡、铱、铂、金、铅、铋量的测定 电感耦合等离子体质谱法现行2016-07-112017-01-01
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YS/T 1119-2016海绵钯化学分析方法 镁、铝、硅、铬、锰、铁、镍、铜、锌、钌、铑、银、锡、铱、铂、金、铅、铋的测定 电感耦合等离子体质谱法现行2016-07-112017-01-01
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