Electronics assembly technology—Part 4: Endurance test methods for solder joint of area array type package surface mount devices
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB32/T 1893-2011 | 电子档案基础元数据数据库结构和封装格式 | 现行 | 2011-09-01 | 2011-11-01 |
| T/BEA 43010-2024 | 封装电子材料真空放气率检测规范 | 现行 | 2024-09-13 | 2024-09-23 |
| SJ/T 12076-2025 | 硅基光电子芯片封装设计导则 | 现行 | 2025-12-19 | 2026-07-01 |
| GB/T 28511.2-2023 | 平面光波导集成光路器件 第2部分:基于阵列波导光栅(AWG)技术的密集波分复用(DWDM)滤波器 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-04-01 |
| YD/T 2000.2-2018 | 平面光波导集成光路器件 第2部分:基于阵列波导光栅(AWG)技术的密集波分复用(DWDM)滤波器 | 现行 | 2018-12-21 | 2019-04-01 |
| YD/T 2000.2-2009 | 平面光波导集成光路器件 第2部分:基于阵列波导光栅(AWG)技术的密集波分复用(DWDM)滤波器 | 废止 | 2009-12-11 | 2010-01-01 |
| GB/T 28511.2-2012 | 平面光波导集成光路器件 第2部分:基于阵列波导光栅(AWG)技术的密集波分复用(DWDM)滤波器 | 废止 | 2012-06-29 | 2012-10-01 |
| GB/T 5965-2000 | 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范 | 现行 | 2000-01-03 | 2000-07-01 |
| GB/T 19247.6-2024 | 印制板组装 第6部分:球栅阵列(BGA)和盘栅阵列(LGA)焊点空洞的评估要求及测试方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-07-01 |
| GB/T 41869.1-2022 | 光学和光子学 微透镜阵列 第1部分:术语 | 现行 | 2022-10-12 | 2022-10-12 |
| GB/T 41869.2-2022 | 光学和光子学 微透镜阵列 第2部分:波前像差的测试方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-05-01 |
| GB/T 12604.13-2023 | 无损检测 术语 第13部分:阵列超声检测 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-05-23 |
| GB/T 41869.3-2024 | 光学和光子学 微透镜阵列 第3部分:光学特性测试方法 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-06-01 |
| GB/T 41869.4-2024 | 光学和光子学 微透镜阵列 第4部分:几何特性测试方法 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-03-01 |
| NB/T 47013.18-2024 | 承压设备无损检测 第18 部分:阵列涡流检测 | 现行 | 2024-05-24 | 2024-11-24 |
| YD/T 1710.1-2015 | 2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网智能天线 第1部分:天线阵列 | 现行 | 2015-07-14 | 2015-10-01 |
| YD/T 2000.4-2026 | 平面光波导集成光路器件 第4部分:阵列波导光栅路由器(AWGR) | 即将实施 | 2026-06-01 | 2026-09-01 |
| GB/T 35297-2017 | 信息技术 盘阵列通用规范 | 现行 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |