| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| DB35/T 1118-2011 | 抗灰迹磷酸钛氧钾非线性光学单晶元件 | 废止 | 2011-03-07 | 2011-06-01 |
| DB36/ 771-2013 | 直拉单晶硅单位产品能源消耗限额 | 废止 | 2013-12-25 | 2014-02-01 |
| GB/T 11297.6-1989 | 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| GB/T 11297.7-1989 | 锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法 | 现行 | 1989-03-31 | 1990-01-01 |
| T/CISA 086-2021 | DD405单晶高温合金母合金 | 现行 | 2021-02-18 | 2021-03-01 |
| T/STSI 7-2020 | 建筑用光伏组件 U型单晶件通用技术要求 | 现行 | 2020-12-25 | 2020-12-25 |
| T/ZZB 1927-2020 | 自动单晶硅棒切方机 | 现行 | 2020-11-20 | 2020-12-01 |
| T/CSTM 00033-2020 | 核辐射探测用无机光学单晶术语 | 现行 | 2020-08-03 | 2020-11-03 |
| T/ZZB 1389-2019 | 单晶硅光伏电池 | 现行 | 2019-11-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 010-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度检测方法-激光散射检测法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 011-2019 | 导电碳化硅单晶片电阻率测量方法—非接触涡流法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 012-2019 | 碳化硅单晶抛光片表面质量和微管密度测试方法 ——共焦点微分干涉光学法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/IAWBS 013-2019 | 半绝缘碳化硅单晶片电阻率非接触测量方法 | 现行 | 2019-12-27 | 2019-12-31 |
| T/GZHG 006-2019 | 大单晶镍钴锰酸锂（NCM523） | 现行 | 2019-06-27 | 2019-07-27 |
| T/ZZB 0497-2018 | 声表面波器件用单晶晶片 | 现行 | 2018-08-31 | 2018-09-30 |
| T/ZZB 0648-2018 | 200 mm重掺磷直拉硅单晶抛光片 | 现行 | 2018-10-19 | 2018-11-01 |
| T/CEMIA 004-2018 | 光伏单晶硅生长用石英坩埚 | 现行 | 2018-03-01 | 2018-05-01 |
| T/CEMIA 005-2018 | 光伏单晶硅生长用石英坩埚生产规范 | 现行 | 2018-03-01 | 2018-05-01 |