| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/ZNL 001-2021 | 电动汽车充电电缆抗热老化性能检测方法 热重分析法 | 现行 | 2021-07-05 | 2021-08-05 |
| GB/T 30020-2023 | 玻璃缺陷检测方法 光弹扫描法 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
| DB21/T 3897-2023 | 软件工程 软件缺陷等级判定方法 | 现行 | 2023-12-30 | 2024-01-30 |
| GB/T 40067-2021 | 碳化钨粉末微观组织及缺陷检测方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 3301-2023 | 日用陶瓷器规格误差和缺陷尺寸的测定方法 | 现行 | 2023-05-23 | 2023-12-01 |
| GB/T 14999.2-2012 | 高温合金试验方法 第2部分：横向低倍组织及缺陷酸浸检验 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-05-01 |
| GB/T 19816.5-2005 | 涂覆涂料前钢材表面处理 喷射清理用金属磨料的试验方法 第5部分:缺陷颗粒百分比和微结构的测定 | 现行 | 2005-09-14 | 2006-04-01 |
| GB/T 26740-2011 | 道路车辆 制动衬片 盘式制动衬块 试验后表面和材料缺陷的评价方法 | 现行 | 2011-07-20 | 2012-03-01 |
| SY/T 6151-2022 | 钢质管道金属损失缺陷评价方法 | 现行 | 2022-11-04 | 2023-05-04 |
| GB/T 43493.2-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第2部分：缺陷的光学检测方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/T 43493.3-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/T 24300-2009 | 铜钨电触头缺陷检测方法 | 废止 | 2009-09-30 | 2010-02-01 |
| GB/T 4058-2009 | 硅抛光片氧化诱生缺陷的检验方法 | 现行 | 2009-10-30 | 2010-06-01 |
| JB/T 8268-2015 | 静电复印光导体表面缺陷测量方法 | 现行 | 2015-04-30 | 2015-10-01 |
| JB/T 10861-2008 | 滚动轴承 钢球表面缺陷图册及评定方法 | 现行 | 2008-03-12 | 2008-09-01 |
| YB/T 145-2013 | 钢管探伤对比试样人工缺陷尺寸测量方法 | 现行 | 2013-04-25 | 2013-09-01 |
| GB/T 37051-2018 | 太阳能级多晶硅锭、硅片晶体缺陷密度测定方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-04-01 |
| DB50/T 1807-2025 | 承压设备射线检测缺陷自动识别系统评价方法 | 现行 | 2025-03-24 | 2025-06-24 |