Test method for determining geometrical parameters of patterns on patterned sapphire substrate
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 15049.9-1996 | CAD 标准件图形文件 几何图形和特性规范 垫圈 | 废止 | 1996-10-23 | 1997-05-01 |
| GB/T 15049.3-1996 | CAD 标准件图形文件 几何图形和特性规范 铆钉 | 废止 | 1996-10-23 | 1997-05-01 |
| GB/T 15049.4-1996 | CAD 标准件图形文件 几何图形和特性规范 销 | 废止 | 1996-10-23 | 1997-05-01 |
| GB/T 15049.8-1996 | CAD 标准件图形文件 几何图形和特性规范 挡圈 | 废止 | 1996-10-23 | 1997-05-01 |
| GB/T 15049.7-1996 | CAD 标准件图形文件 几何图形和特性规范 螺钉 | 废止 | 1996-10-23 | 1997-05-01 |
| GB/T 15049.6-1996 | CAD 标准件图形文件 几何图形和特性规范 螺栓 | 废止 | 1996-10-23 | 1997-05-01 |
| GB/T 15049.5-1996 | CAD 标准件图形文件 几何图形和特性规范 螺母 | 废止 | 1996-10-23 | 1997-05-01 |
| GB/T 15049.11-1997 | CAD标准件图形文件 几何图形和特性规范 滚动轴承 | 废止 | 1997-12-12 | 1998-08-01 |
| GB/T 15049.10-1997 | CAD标准件图形文件 几何图形和特性规范 键 | 废止 | 1997-12-12 | 1998-08-01 |
| GB/T 12823.2-2026 | 摄影和图形技术 密度测量 第2部分：透射密度的几何条件 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| GB/T 12823.4-2026 | 摄影和图形技术 密度测量 第4部分：反射密度的几何条件 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| GB/T 12823.1-2026 | 摄影和图形技术 密度测量 第1部分：几何和函数符号 | 即将实施 | 2026-07-02 | 2027-02-01 |
| GB/T 131-2006 | 产品几何技术规范（GPS） 技术产品文件中表面结构的表示法 | 现行 | 2006-07-19 | 2007-02-01 |
| GB/T 18778.3-2006 | 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 轮廓法 具有复合加工特征的表面 第3部分: 用概率支承率曲线表征高度特性 | 现行 | 2006-07-19 | 2007-02-01 |
| GB/T 18777-2009 | 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 轮廓法 相位修正滤波器的计量特性 | 废止 | 2009-11-15 | 2010-09-01 |
| GB/T 10610-2009 | 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 轮廓法 评定表面结构的规则和方法 | 现行 | 2009-03-16 | 2009-11-01 |
| GB/T 33523.2-2017 | 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 区域法 第2部分：术语、定义及表面结构参数 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| GB/T 33523.701-2017 | 产品几何技术规范（GPS） 表面结构 区域法 第701部分：接触（触针）式仪器的校准与测量标准 | 现行 | 2017-02-28 | 2017-09-01 |