| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/ZZB 0061-2016 | 多晶硅铸锭炉 | 现行 | 2016-08-24 | 0000-00-00 |
| T/CI 465-2024 | 质量分级及“领跑者”评价要求 多晶硅 | 现行 | 2024-08-15 | 2024-08-15 |
| T/CI 457-2024 | 电子级多晶硅用聚乙烯包装材料技术规范 | 现行 | 2024-08-15 | 2024-08-15 |
| YS/T 1829-2025 | 区熔用硅多晶材料 | 即将实施 | 2025-12-17 | 2026-07-01 |
| JJG 629-2014 | 多晶X射线衍射仪 | 现行 | 2014-06-15 | 2014-12-15 |
| YS/T 1863.1-2026 | 硅多晶用硅粉理化性能的测定 第 1 部分：有效硅含量的测定 重量法 | 即将实施 | 2026-04-15 | 2026-11-01 |
| YS/T 1863.2-2026 | 硅多晶用硅粉理化性能的测定 第 2 部分： 浊度的测定 散射光法 | 即将实施 | 2026-04-15 | 2026-11-01 |
| GB/T 25074-2025 | 太阳能级硅多晶（外文版EN） | 现行 | 2025-06-30 | |
| GB/T 35306-2023 | 硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 12964-2018 | 硅单晶抛光片 | 现行 | 2018-09-17 | 2019-06-01 |
| GB/T 26069-2022 | 硅单晶退火片 | 现行 | 2022-03-09 | 2022-10-01 |
| GB/T 32282-2015 | 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 12962-2015 | 硅单晶 | 现行 | 2015-12-10 | 2017-01-01 |
| GB/T 35305-2017 | 太阳能电池用砷化镓单晶抛光片 | 废止 | 2017-12-29 | 2018-07-01 |
| JY/T 0588-2020 | 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则 | 现行 | 2020-09-29 | 2020-12-01 |
| GB/T 26065-2010 | 硅单晶抛光试验片规范 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| GB/T 32189-2015 | 氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 19199-2015 | 半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-07-01 |