Test method for surface roughness of GaN single crystal substrate by atomic force microscope
现行
2015-12-10
2016-11-01
GB/T 32189-2015
国家标准委
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
国家标准委
H21
77.040
国家标准
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YD/T 4083.2-2024 | 数字通信对称电缆用连接器 第2部分：8通道RJ45型 非屏蔽活动和固定连接器 | 现行 | 2024-07-05 | 2024-10-01 |