GB/T 41751-2022 氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法

Test method for radius of curvature of crystal plane in GaN single crystal substrate wafers

标准状态

2022-10-14

2023-02-01

GB/T 41751-2022

国家标准委

国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

国家标准委

H21

77.040

国家标准

标准号	标准名称	状态	发布日期	实施日期
YS/T 839-2012	硅衬底上绝缘体薄膜厚度及折射率的椭圆偏振测试方法	现行	2012-11-07	2013-03-01
GB/T 31353-2014	蓝宝石衬底片弯曲度测试方法	现行	2014-12-31	2015-09-01
GB/T 43662-2024	蓝宝石图形化衬底片	现行	2024-03-15	2024-10-01
GB/T 30861-2014	太阳能电池用锗衬底片	现行	2014-07-24	2015-04-01
GB/T 24580-2009	重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 24576-2009	高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法	现行	2009-10-30	2010-06-01
GB/T 32189-2015	氮化镓单晶衬底表面粗糙度的原子力显微镜检验法	现行	2015-12-10	2016-11-01
GB/T 29769-2013	废弃电子电气产品回收利用术语	现行	2013-10-10	2014-02-01
GB/T 13091-2018	饲料中沙门氏菌的测定	现行	2018-09-17	2019-04-01