微机电系统(MEMS)技术 硅基MEMS纳米厚度膜抗拉强度试验方法

Micro-electromechanical systems(MEMS) technology—Tensile strength test method for nano-scale membranes of silicon based MEMS

GB/T 42897-2023推荐性国家标准

现行

上传时间:2026-03-03
格式:pdf

GB/T 42897-2023 相似标准 第14页

更新时间 2026-10-25
标准号标准名称状态发布日期实施日期
YS/T 14-1991导质外延层和硅夕晶层厚度测量方法废止1991-04-261992-06-01
JT/T 940-2014公路断面探伤及结构层厚度探地雷达废止2014-12-102015-04-05
HG/T 3050.3-2001橡胶或塑料涂覆织物 整卷特性的测定 第3部分:测定厚度的方法废止2002-01-242002-07-01
FZ/T 01006-1991涂层织物 涂层厚度试验方法废止1991-05-151992-01-01
JB/T 8270-1995静电复印光导体膜层厚度 测量方法废止1996-04-141996-04-14
QB/T 1055-1998纸与纸板厚度测定仪废止1998-05-141999-03-01
SY 0066-1992管道防腐层厚度的无损测量方法(磁性法)废止1992-06-301992-12-01
QB/T 1555-1992地毯毯基上绒头厚度的试验方法废止1992-07-061993-03-01
FZ/T 01006-1991涂层织物 涂层厚度试验方法废止1991-05-151992-01-01
QB/T 1135-1991首饰金银覆盖层厚度的测定方法X射线荧光光谱法废止1991-06-041992-01-01
QB 1132-1991首饰银覆盖层厚度的规定废止1991-06-041992-01-01
QB 1131-1991首饰金覆盖层厚度的规定废止1991-06-041992-01-01
QB 1055-1991厚度测定仪废止1991-06-041992-01-01
QB/T 1134-1991首饰银覆盖层厚度的测定方法化学法废止1991-06-041992-01-01
QB/T 1133-1991首饰金覆盖层厚度的测定方法化学法废止1991-06-041992-01-01
QB 1059-1991瓦楞纸板厚度测定仪废止1991-06-041992-01-01
DB34/T 3369-2019印制电路用覆铜箔层压板基材厚度测定方法 金相法废止2019-07-012019-09-01
DB21/T 2838-2017高分子防水材料复合片(FS2)芯材厚度现场测试方法废止2017-08-262017-09-26