Test method for crystallographic perfection of epitaxial layers in silicon—Etching technique
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 37240-2018 | 晶体硅光伏组件盖板玻璃透光性能测试评价方法 | 现行 | 2018-12-28 | 2019-07-01 |
| QC/T 1136-2020 | 电动汽车用绝缘栅双极晶体管（IGBT）模块环境试验要求及试验方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| GB/T 6495.4-1996 | 晶体硅光伏器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 | 废止 | 1996-07-09 | 1997-01-01 |
| GB/T 40291-2021 | 核仪器仪表 辐射探测器用高纯度锗晶体 基本特性的测量方法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| SJ/T 10638-1995 | 石英晶体振荡器测试方法 | 现行 | 1995-04-22 | 1995-10-01 |
| SJ/T 11210-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| SJ/T 11765-2020 | 晶体管低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11211-1999 | 石英晶体元件参数的测量 第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法 | 现行 | 1999-08-26 | 1999-12-01 |
| SJ/T 10415-1993 | 晶体管热敏参数快速筛选试验方法 | 现行 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| SJ/T 10333-1993 | 单结晶体管测试方法 | 现行 | 1993-03-24 | 1993-10-01 |
| SJ/T 10439-1993 | 双极型晶体管直流参数测试仪测试方法 | 现行 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| DB33/ 972-2019 | 晶体硅光伏产品单位可比电耗限额及计算方法 | 现行 | 2019-05-31 | 2019-09-01 |
| GB/T 6430-1986 | 晶体盒型号命名方法 | 现行 | 1986-05-27 | 1987-05-01 |
| GB/T 39865-2021 | 单轴晶光学晶体折射率测量方法 | 现行 | 2021-03-09 | 2021-10-01 |
| GB/T 22453-2025 | 激光用非线性光学晶体元件性能测量方法 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-08-01 |
| GB/T 16863-1997 | 晶体折射率的试验方法 | 现行 | 1997-06-16 | 1997-12-01 |
| GB/T 16864-1997 | 低温下晶体透射率的试验方法 | 现行 | 1997-06-16 | 1997-12-01 |
| GB/T 16822-1997 | 介电晶体介电性能的试验方法 | 现行 | 1997-05-28 | 1998-02-01 |