HG/T 6093-2022 相似标准 第4页

更新时间 2026-10-27
标准号标准名称状态实施日期相似标准
GB/T 48164.2-2026半导体器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)可靠性试验方法 第2部分:体二极管工作引起双极退化的试验方法即将实施2027-03-01找相似