Microscopes—Definition and measurement of illumination properties—Part 1: Image brightness and uniformity in bright field microscopy
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 44268.1-2024 | 显微镜照明特性的定义和测量 第 1 部分：明场显微镜的图像亮度和均匀性 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |
| GB/T 44268.2-2024 | 显微镜照明特性的定义和测量 第 2 部分：明场显微镜中与颜色有关的照明特性 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |
| GB/T 44268.3-2026 | 显微镜照明特性的定义和测量 第3部分：使用非相干光源的入射光荧光显微术 | 即将实施 | 2026-08-28 | 2027-03-01 |
| GB/T 34879-2017 | 产品几何技术规范（GPS） 光学共焦显微镜计量特性及测量不确定度评定导则 | 现行 | 2017-11-01 | 2018-05-01 |
| GB/T 43661-2024 | 表面化学分析 扫描探针显微术 用于二维掺杂物成像等用途的电扫描探针显微镜（ESPM，如SSRM和SCM）空间分辨的定义和校准 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 13288.3-2009 | 涂覆涂料前钢材表面处理 喷射清理后的钢材表面粗糙度特性 第3部分：ISO表面粗糙度比较样块的校准和表面粗糙度的测定方法 显微镜调焦法 | 现行 | 2009-03-09 | 2009-11-01 |
| GB/T 44276.1-2024 | 显微镜 盖玻片 第1部分：尺寸偏差、厚度和光学特性 | 现行 | 2024-08-23 | 2025-03-01 |
| GB/T 31227-2014 | 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法 | 现行 | 2014-09-30 | 2015-04-15 |
| GB/T 32282-2015 | 氮化镓单晶位错密度的测量 阴极荧光显微镜法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-11-01 |
| GB/T 29190-2012 | 扫描探针显微镜漂移速率测量方法 | 现行 | 2012-12-31 | 2013-06-01 |
| GB/T 40066-2021 | 纳米技术 氧化石墨烯厚度测量 原子力显微镜法 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 8014.3-2005 | 铝及铝合金阳极氧化 氧化膜厚度的测量方法 第3部分:分光束显微镜法 | 现行 | 2005-07-04 | 2005-12-01 |
| GB/T 6462-2005 | 金属和氧化物覆盖层 厚度测量显微镜法 | 废止 | 2005-06-23 | 2005-12-01 |
| GB/T 27760-2011 | 利用Si（111）晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法 | 现行 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| GB/T 42659-2023 | 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| JB/T 9349-1999 | 工具显微镜用测量刀 | 现行 | 1999-08-06 | 2000-01-01 |
| GB/T 2951.41-2008 | 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法 第41部分：聚乙烯和聚丙烯混合料专用试验方法 耐环境应力开裂试验 熔体指数测量方法 直接燃烧法测量聚乙烯中碳黑和(或)矿物质填料含量 热重分析法(TGA)测量碳黑含量 显微镜法评估聚乙烯中碳黑分散度 | 现行 | 2008-06-26 | 2009-04-01 |
| GB/T 45770-2025 | 表面化学分析 原子力显微术 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓原位表征程序 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |