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| GB/T 6616-2023 | 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 | 现行 | 2023-08-06 | 2024-03-01 |
| GB/T 14048.6-2016 | 低压开关设备和控制设备 第4-2部分：接触器和电动机起动器 交流电动机用半导体控制器和起动器(含软起动器) | 废止 | 2016-08-29 | 2017-03-01 |
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| GB 14048.6-2008 | 低压开关设备和控制设备 第4-2部分：接触器和电动机起动器 交流半导体电动机控制器和起动器（含软起动器） | 废止 | 2008-03-24 | 2009-01-01 |
| GB/T 14048.6-2025 | 低压开关设备和控制设备 第4-2部分：接触器和电动机起动器 电动机用半导体控制器、起动器和软起动器 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 14048.12-2025 | 低压开关设备和控制设备 第4-3部分：接触器和电动机起动器 非电动机负载用半导体控制器和半导体接触器 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| GB/T 22200.4-2025 | 低压电器可靠性 第4部分：家用及类似场所用过电流保护断路器的可靠性试验方法 | 即将实施 | 2025-12-31 | 2026-07-01 |
| JB/T 10493-2005 | 家用和类似用途的过电流保护断路器的可靠性试验方法 | 现行 | 2005-03-19 | 2005-09-01 |
| GB/Z 22203-2016 | 家用及类似场所用过电流保护断路器的可靠性试验方法 | 废止 | 2016-04-25 | |
| YD/T 2832-2015 | 通信用过电压过电流保护装置节能参数和测试方法 | 现行 | 2015-05-05 | 2015-07-01 |
| JB/T 9478.6-2013 | 光电池测量方法 第6部分：暗电流 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 9478.4-2013 | 光电池测量方法 第4部分：照度-电流特性 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 9478.7-2013 | 光电池测量方法 第7部分：暗电流温度特性 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| GB/T 7016-1986 | 固定电阻器电流噪声测量方法 | 废止 | 1986-11-20 | 1987-09-01 |