Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display—Optical reliability assessment for quantum dot enabled light conversion film
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 16818-2008 | 中、短程光电测距规范 | 现行 | 2008-06-20 | 2008-12-01 |
| GB/T 15651.2-2003 | 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 15651.3-2003 | 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 | 现行 | 2003-11-24 | 2004-08-01 |
| GB/T 18904.5-2003 | 半导体器件 第12-5部分:光电子器件 纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范 | 现行 | 2003-01-24 | 2003-08-01 |
| DL/T 1062-2020 | 光电式（CCD）引张线仪 | 现行 | 2020-10-23 | 2021-02-01 |
| GB/T 3292.2-2009 | 纺织品 纱线条干不匀试验方法 第2部分：光电法 | 现行 | 2009-06-19 | 2010-02-01 |
| GB/T 26042-2010 | 锌及锌合金分析方法 光电发射光谱法 | 现行 | 2011-01-10 | 2011-10-01 |
| NB/T 11568.7-2024 | 水电工程岩土试验仪器设备校验规程 第7部分：光电式液塑限联合测定仪 | 现行 | 2024-05-24 | 2024-11-24 |
| GB/T 36401-2018 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 | 现行 | 2018-06-07 | 2019-05-01 |
| GB/T 33502-2017 | 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2017-02-28 | 2018-01-01 |
| GB/T 15651.4-2017 | 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器 | 现行 | 2017-05-31 | 2017-12-01 |
| GB/T 28633-2012 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 强度标的重复性和一致性 | 现行 | 2012-07-31 | 2013-02-01 |
| GB/T 28632-2012 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定 | 现行 | 2012-07-31 | 2013-02-01 |
| GB/T 25185-2010 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| GB/T 23729-2009 | 闪烁探测器用光电二极管 试验方法 | 现行 | 2009-05-06 | 2009-12-01 |
| GB/T 21006-2007 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性 | 现行 | 2007-07-31 | 2008-03-01 |
| GB/T 7999-2015 | 铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法 | 现行 | 2015-09-11 | 2016-04-01 |
| YD/T 4305.1-2023 | 通信用光电混合活动连接器 第1部分：SC型 | 现行 | 2023-05-22 | 2023-08-01 |