Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display—Optical reliability assessment for quantum dot enabled light conversion film
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YY/T 0457.4-2003 | 医用电气设备 光电X射线影像增强器特性 第4部分：影像失真的测定 | 现行 | 2003-06-17 | 2004-01-01 |
| YY/T 0457.3-2003 | 医用电气设备 光电X射线影像增强器特性 第3部分：亮度分布和非均匀性测定 | 现行 | 2003-06-17 | 2004-01-01 |
| EJ/T 863-1994 | 铀矿物反射率光电法测定 | 现行 | 1994-07-18 | 1994-12-01 |
| GB/T 39585-2020 | 光电测量 配光测试系统的性能要求和检测方法 | 现行 | 2020-12-14 | 2021-07-01 |
| GB/T 47076-2026 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 导电碳基材料结合能的测量 | 即将实施 | 2026-01-28 | 2026-08-01 |
| DZ/T 0034-1992 | 光电测距高程导线测量规范 | 现行 | 1992-11-09 | 1993-10-01 |
| GB/T 19894-2005 | 数码照相机 光电转换函数(OECFs)的测量方法 | 废止 | 2005-09-09 | 2006-04-01 |
| GB/T 45772-2025 | 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱分析中X射线致材料非预期损伤的识别、评估和校正程序 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 19894-2025 | 数码照相机 光电转换函数（OECFs）的测量方法 | 现行 | 2025-08-01 | 2026-02-01 |
| GB/T 45769-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 均匀材料中元素检测限的评估和报告 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/Z 32490-2016 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序 | 现行 | 2016-02-24 | |
| GB/T 45773-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| SJ/T 11766-2020 | 光电耦合器件低频噪声参数测试方法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11760-2020 | 光伏电池绒面反射率的测量 光电积分法 | 现行 | 2020-12-09 | 2021-04-01 |
| SJ/T 11866-2022 | 半导体光电子器件 硅衬底白光功率发光二极管详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 11817-2022 | 半导体光电子器件 灯丝灯用发光二极管空白详细规范 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |
| SJ/T 10248-1991 | GD-24型光电管详细规范 | 现行 | 1991-11-12 | 1992-01-01 |
| SJ/T 11845.2-2022 | 基于低频噪声参数的电子元器件可靠性评价方法 第2部分：光电耦合器件 | 现行 | 2022-10-20 | 2023-01-01 |