Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - determination of lateral resolution, analysis area, and sample area viewed by the analyser
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 43889-2024 | 微束分析 电子探针显微分析仪（EPMA）质量保证程序实施导则 | 现行 | 2024-04-25 | 2024-11-01 |
| YS/T 935-2013 | 电子薄膜用高纯金属溅射靶材纯度等级及杂质含量分析和报告标准指南 | 现行 | 2013-10-17 | 2014-03-01 |
| YB/T 4676-2018 | 钢中析出相的分析 透射电子显微镜法 | 现行 | 2018-10-22 | 2019-04-01 |
| GB/T 2679.11-2008 | 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱法 | 现行 | 2008-08-19 | 2009-05-01 |
| SY/T 6027-2019 | 岩石矿物电子探针定量分析方法 | 现行 | 2019-11-04 | 2020-05-01 |
| GB/T 43748-2024 | 微束分析 透射电子显微术 集成电路芯片中功能薄膜层厚度的测定方法 | 现行 | 2024-03-15 | 2024-10-01 |
| GB/T 18978.307-2015 | 人-系统交互工效学 第307部分：电子视觉显示器的分析和符合性试验方法 | 现行 | 2015-12-10 | 2016-07-01 |
| GB/T 18907-2013 | 微束分析分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法 | 现行 | 2013-07-19 | 2014-03-01 |
| GB/T 28634-2025 | 微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析 | 现行 | 2025-04-25 | 2025-11-01 |
| GB/T 4930-2021 | 微束分析 电子探针显微分析 标准样品技术条件导则 | 现行 | 2021-05-21 | 2021-12-01 |
| GB/T 40300-2021 | 微束分析分析电子显微学 术语 | 现行 | 2021-08-20 | 2022-03-01 |
| GB/T 20725-2025 | 微束分析 电子探针显微分析 波谱法定性点分析导则 | 现行 | 2025-03-28 | 2025-10-01 |
| GB/T 38532-2020 | 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定 | 现行 | 2020-03-06 | 2021-02-01 |
| SJ/T 10551-1994 | 电子陶瓷用三氧化二铝中杂质的发射光谱分析方法 | 废止 | 1994-08-08 | 1994-12-01 |
| SJ/T 10552-1994 | 电子陶瓷用二氧化钛中杂质的发射光谱分析方法 | 废止 | 1994-08-08 | 1994-12-01 |
| SJ/T 10553-1994 | 电子陶瓷用二氧化锆中杂质的发射光谱分析方法 | 废止 | 1994-08-08 | 1994-12-01 |
| GB/T 15246-2022 | 微束分析 硫化物矿物的电子探针定量分析方法 | 现行 | 2022-10-14 | 2023-02-01 |
| GB/T 46057-2025 | 微束分析 扫描电子显微术 CD-SEM评定关键尺寸的方法 | 即将实施 | 2025-08-29 | 2026-03-01 |