Non-destructive testing―Penetrant testing―Part 5: Penetrant testing at temperatures higher than 50 ℃
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/T 43493.3-2023 | 半导体器件 功率器件用碳化硅同质外延片缺陷的无损检测识别判据 第3部分：缺陷的光致发光检测方法 | 现行 | 2023-12-28 | 2024-07-01 |
| GB/T 42399.3-2023 | 无损检测仪器 相控阵超声设备的性能与检验 第3部分：组合系统 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
| GB/T 42399.1-2023 | 无损检测仪器 相控阵超声设备的性能与检验 第1部分：仪器 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
| GB/T 42399.2-2023 | 无损检测仪器 相控阵超声设备的性能与检验 第2部分：探头 | 现行 | 2023-03-17 | 2023-10-01 |
| GB/T 41123.3-2021 | 无损检测 工业射线计算机层析成像检测 第3部分：验证 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/Z 41285.5-2022 | 无损检测仪器 密封放射性源技术应用射线防护规则 第5部分：γ射线机的预防护措施 | 现行 | 2022-03-09 | |
| GB/Z 41476.1-2022 | 无损检测仪器 1MV以下X射线设备的辐射防护规则 第1部分：通用安全技术要求 | 现行 | 2022-04-15 | |
| GB/T 27664.2-2011 | 无损检测 超声检测设备的性能与检验 第2部分：探头 | 废止 | 2011-12-30 | 2012-05-01 |
| GB/T 26141.1-2010 | 无损检测 射线照相底片数字化系统的质量鉴定 第1部分：定义、像质参数的定量测量、标准参考底片和定性控制 | 现行 | 2011-01-14 | 2011-10-01 |
| GB/T 26141.2-2010 | 无损检测 射线照相底片数字化系统的质量鉴定 第2部分：最低要求 | 现行 | 2011-01-14 | 2011-10-01 |
| JB/T 12727.2-2020 | 无损检测仪器 试样 第2部分：射线检测试样 | 现行 | 2020-04-16 | 2021-01-01 |
| JB/T 11602.3-2013 | 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第3部分：能谱检测 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11602.2-2013 | 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第2部分： 用厚滤光板法作持久校验 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11603.1-2013 | 无损检测仪器 声发射 设备特性 第1部分：设备描述 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| GB/T 19799.3-2025 | 无损检测 超声检测试块 第3部分：曲面检测标准试块 | 现行 | 2025-01-24 | 2025-01-24 |
| JB/T 11603.2-2013 | 无损检测仪器 声发射 设备特性 第2部分：操作特性验证 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| JB/T 11602.1-2013 | 无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第1部分： 电压分压检测 | 现行 | 2013-12-31 | 2014-07-01 |
| GB/T 32073.1-2025 | 无损检测 测量残余应力的超声检测方法 第1部分:临界折射纵波法 | 现行 | 2025-12-31 | 2025-12-31 |