Surface chemical analysis—Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy（XPS）
现行
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| GB/Z 32490-2016 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序 | 现行 | 2016-02-24 | |
| GB/T 45773-2025 | 表面化学分析 X射线光电子能谱全扫描谱的准实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |
| GB/T 41072-2021 | 表面化学分析 电子能谱 紫外光电子能谱分析指南 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-04-01 |
| T/CSTM 01193-2024 | 酸化碳纳米管 表面元素及化学态分析方法 X射线光电子能谱 | 现行 | 2024-01-05 | 2024-04-05 |
| GB/T 22571-2008 | 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准 | 废止 | 2008-12-11 | 2009-10-01 |
| GB/T 28893-2012 | 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |
| GB/T 28892-2012 | 表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 废止 | 2012-11-05 | 2013-06-01 |
| GB/T 25188-2010 | 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法 | 现行 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |
| T/CSTM 01199-2024 | 多层金属薄膜 层结构测量分析方法 X射线光电子能谱 | 现行 | 2024-01-05 | 2024-04-05 |
| GB/T 19500-2004 | X-射线光电子能谱分析方法通则 | 废止 | 2004-04-30 | 2004-12-01 |
| GB/T 29731-2013 | 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准 | 现行 | 2013-09-18 | 2014-06-01 |
| GB/T 29558-2013 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性 | 现行 | 2013-07-19 | 2014-03-01 |
| GB/T 29732-2021 | 表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准 | 现行 | 2021-12-31 | 2022-07-01 |
| GB/T 25187-2024 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 选择仪器性能参数的表述 | 现行 | 2024-11-28 | 2025-06-01 |
| GB/Z 32494-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱化学信息的解析 | 现行 | 2016-02-24 | |
| GB/T 32998-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求 | 现行 | 2016-10-13 | 2017-09-01 |
| GB/T 32565-2016 | 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求 | 现行 | 2016-02-24 | 2017-01-01 |
| GB/T 25187-2010 | 表面化学分析 俄歇电子能谱 - 选择仪器性能参数的表述 | 废止 | 2010-09-26 | 2011-08-01 |