Surface chemical analysis—General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| YS/T 1012-2025 | 高纯镍化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 1011-2025 | 高纯钴化学分析方法 杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2025-08-19 | 2026-03-01 |
| YS/T 901-2024 | 高纯钨化学分析方法 痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 891-2024 | 高纯钛化学分析方法 痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| YS/T 897-2024 | 高纯铌化学分析方法 痕量元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-10-24 | 2025-05-01 |
| T/SCS 000018-2024 | 便携式液体阴极辉光放电水质重金属光谱分析仪 | 现行 | 2024-09-02 | 2024-10-02 |
| T/SCS 000022-2024 | 钼合金 痕量元素分析辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-08-27 | 2024-09-27 |
| YB/T 6158-2023 | 金属铬 痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-12-20 | 2024-07-01 |
| GB/T 13945-1992 | 辉光放电显示管总规范(可供认证用) | 现行 | 1992-12-17 | 1993-08-01 |
| GB/T 15648-1995 | 辉光放电显示管测试方法 | 现行 | 1995-07-24 | 1996-04-01 |
| GB/T 32651-2016 | 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法 | 现行 | 2016-04-25 | 2016-11-01 |
| T/JSGA 008-2024 | 高含量贵金属首饰金、 银、铂、钯含量的测定 辉光放电质谱法(差减法) | 现行 | 2024-04-02 | 2024-04-09 |
| T/CASAS 036-2025 | 碳化硅单晶生长用等静压石墨构件纯度测定方法 辉光放电质谱法 | 现行 | 2025-04-23 | 2025-04-23 |
| T/CSTM 01099-2024 | 镍基变形高温合金 痕量元素的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2024-10-31 | 2025-01-31 |
| T/CSTM 00445-2021 | 辉光放电质谱仪校准规范 | 现行 | 2021-03-02 | 2021-06-03 |
| YS/T 1600-2023 | 碳化硅单晶中痕量杂质元素含量的测定 辉光放电质谱法 | 现行 | 2023-04-21 | 2023-11-01 |
| GB/T 13946-1992 | 辉光放电显示管空白详细规范(可供认证用) | 废止 | 1992-12-17 | 1993-08-01 |
| DB35/T 1146-2011 | 硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法 | 废止 | 2011-04-10 | 2011-07-10 |