| 标准号 | 标准名称 | 状态 | 发布日期 | 实施日期 |
|---|---|---|---|---|
| T/CSTM 00986-2023 | 高频介质基板的复介电常数测试 平衡型圆盘谐振器法 | 现行 | 2023-04-07 | 2023-07-07 |
| T/CSTM 00985-2023 | 低损耗介质板的复介电常数测试 分离式圆柱谐振腔法 | 现行 | 2023-04-07 | 2023-07-07 |
| T/CSTM 00909-2023 | 介质基板介电常数和介质损耗角正切测试方法（1MHz~1GHz） 平行板电容法 | 现行 | 2023-01-13 | 2023-04-13 |
| JJF 2325-2025 | 固体电介质材料复介电常数测量方法 | 现行 | 2025-11-05 | 2026-05-05 |
| SJ/T 1147-1993 | 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法 | 废止 | 1993-12-17 | 1994-06-01 |
| GB/T 31838.9-2026 | 固体绝缘材料 介电和电阻特性 第9部分：测定介电特性(AC方法) 相对介电常数和介质损耗因数 绝缘薄膜的接触电极法 | 即将实施 | 2026-07-30 | 2027-02-01 |
| SJ/T 11457.1.3-2021/IEC 61338-1-3:1999 | 波导型介电谐振器 第1-3部分：综合性信息和试验条件-微波频段介电谐振器材料复相对介电常数的测量方法 | 现行 | 2021-03-05 | 2021-06-01 |
| HS/T 10-2006 | 初级形状线性低密度聚乙烯的鉴别方法 | 现行 | 2007-03-28 | 2007-04-01 |
| SJ/T 10246-1991 | 微波介质材料A-陶瓷 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| SJ/T 10244-1991 | 微波介质材料金红石 | 现行 | 1991-05-28 | 1991-12-01 |
| GB/T 46583-2025 | 微波介质陶瓷介电性能测试方法 开腔法、闭腔法 | 即将实施 | 2025-10-31 | 2026-05-01 |
| T/CSTM 00751-2022 | 微波波段固态电介质材料介电性能测试 闭腔法 | 现行 | 2022-04-19 | 2022-07-19 |
| GB/T 44075-2024 | 纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法 | 现行 | 2024-05-28 | 2024-12-01 |
| GB/T 46773-2025 | 超薄陶瓷基片导热系数试验方法 闪光法 | 即将实施 | 2025-12-02 | 2026-07-01 |
| GB/T 14620-2013 | 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 | 现行 | 2013-11-12 | 2014-04-15 |
| GB/T 33752-2017 | 微阵列芯片用醛基基片 | 现行 | 2017-05-12 | 2017-12-01 |
| JB/T 8736-1998 | 电力半导体模块用氮化铝陶瓷基片 | 现行 | 1998-05-28 | 1998-11-01 |
| GB/T 45767-2025 | 氮化硅陶瓷基片 | 现行 | 2025-06-30 | 2026-01-01 |